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場發射穿透式電子顯微鏡說明會

更新時間:2010-03-16 18:58:15 / 張貼時間:2010-04-07 18:04:32
材料系所李若雲
單位材料系所
4,332

 

國立中興大學貴重儀器中心場發射穿透式電子顯微鏡說明會

一、主旨:國立中興大學貴重儀器中心於2009年底獲國科會補助採購場發射穿透式電子顯微鏡(FE-TEMEDS),目前剛開始對外服務,為讓使用者對本儀器有進一步的認識,特舉辦本儀器第一次的服務說明會。

二、儀器簡要說明:本儀器廠牌為日本JEOL JEM-2100F場發射穿透式電子顯微鏡,其解析度可達Point Resoltion0.23nmLattice Resoltion0.1nm除了一般成像及繞射功能外,還可做對比極佳之高解析原子影像,本顯微鏡上亦加裝了X光能量散佈光譜儀(EDS),可對材料做進一步微區之元素定性與半定量分析。

三、議程日期:201048(週四) 9:00 ~ 16:00

地點:中興大學工程三館(化工暨材料大樓)國際會議廳

   

   

   

8:30~9:00

 

9:00~9:30

貴賓致詞

陳全木 教授

薛富盛 教授

楊吉斯 教授

中興大學研發長

中興大學工學院院長

中興大學貴儀中心主任

 

9:30~10:30

FE-TEM原理及應用

   講師

日本電子株式會社

英文

10:30~10:50

Coffee Break

 

10:50~11:50

FE-TEM原理及應用

   講師

日本電子株式會社

英文

11:50~12:10

中興大學貴儀FE-TEM服務說明與綜合討論

 

12:10~13:30

午餐休息時間

 

13:30~15:00

EDS原理及應用

  講師

英國牛津儀器有限公司

中文

15:00~16:00

儀器實機操作介紹

洪英傑 講師

捷東股份有限公司副理

中文

  ※為了便於準備資料,請事先報名(免報名費)326()中午前

FAX04-22857017  盧志榮或E-mail: andylu1002@dragon.nchu.edu.tw聯絡人:盧志榮(TEL04-22851356)

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