場發射穿透式電子顯微鏡說明會

更新時間：2010-03-16 18:58:15 / 張貼時間：2010-04-07 18:04:32

材料系所李若雲

單位材料系所

4,819

國立中興大學貴重儀器中心場發射穿透式電子顯微鏡說明會

一、主旨：國立中興大學貴重儀器中心於2009年底獲國科會補助採購場發射穿透式電子顯微鏡(FE-TEM含EDS)，目前剛開始對外服務，為讓使用者對本儀器有進一步的認識，特舉辦本儀器第一次的服務說明會。

二、儀器簡要說明：本儀器廠牌為日本JEOL JEM-2100F場發射穿透式電子顯微鏡，其解析度可達Point Resoltion：≦0.23nm；Lattice Resoltion：≦0.1nm，除了一般成像及繞射功能外，還可做對比極佳之高解析原子影像，本顯微鏡上亦加裝了X光能量散佈光譜儀(EDS)，可對材料做進一步微區之元素定性與半定量分析。

三、議程：日期：2010年4月8日(週四) 9:00 ~ 16:00

地點：中興大學工程三館(化工暨材料大樓)國際會議廳

時間	講題	主講人	職稱	備註
8:30~9:00	報到
9:00~9:30	貴賓致詞	陳全木教授薛富盛教授楊吉斯教授	中興大學研發長中興大學工學院院長中興大學貴儀中心主任
9:30~10:30	FE-TEM原理及應用	遠藤講師	日本電子株式會社	英文
10:30~10:50	Coffee Break
10:50~11:50	FE-TEM原理及應用	遠藤講師	日本電子株式會社	英文
11:50~12:10	中興大學貴儀FE-TEM服務說明與綜合討論
12:10~13:30	午餐休息時間
13:30~15:00	EDS原理及應用	李慧講師	英國牛津儀器有限公司	中文
15:00~16:00	儀器實機操作介紹	洪英傑講師	捷東股份有限公司副理	中文

※為了便於準備資料，請事先報名(免報名費)，於3月26日(五)中午前，

FAX至04-22857017 盧志榮或E-mail: andylu1002@dragon.nchu.edu.tw聯絡人：盧志榮(TEL04-22851356)

相關附件 2010 FE-TEM_semina.doc

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