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中興大學研發處國科會貴重儀器-高解析X光繞射儀-短期課程研習會

更新時間:2010-09-16 15:08:26 / 張貼時間:2010-09-16 15:08:26
貴儀中心林玫姿
單位研發處貴儀中心
10,211

有鑑於X光繞射儀器及其分析技術應用,在多方學術單位與科研機構與日俱增且爭相採用之下,特舉辦本短期研習課程,透過本短期課程可使參與者了解現今利用二維偵測器的X光繞射與散射等分析技術與技巧。

搭配二維偵測器的X光繞射儀器可提供二維繞射圖案數據,可及時獲知材料的原子排列結構和缺陷等豐富資訊,並可減少數據分析時間。本研習課程涵蓋了二維偵測器-X光繞射理論的基本概念和最新進展,繞射數據解釋及各種應用,如小角度X光散射,結晶相鑑定,織構,應力,顯微分析,結晶度,薄膜的分析等相關材料研究實驗之例子。


演講者: Dr. Kurt (Application Scientist, Bruker-AXS Inc.)
主題: Modern 2D Detector Application

時間: 2010/10/05 AM 10:00 ~ 12:00

地點: 中興大學化材館(工程三館)二樓(M206室)   
主辦單位: 中興大學研發處貴儀中心、材料所

協辦單位: 台灣布魯克公司(Bruker-AXS Inc.)

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