中興大學研發處國科會貴重儀器-高解析X光繞射儀-短期課程研習會
更新時間：2010-09-16 15:08:26 /
張貼時間：2010-09-16 15:08:26
貴儀中心林玫姿
單位研發處貴儀中心
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有鑑於X光繞射儀器及其分析技術應用，在多方學術單位與科研機構與日俱增且爭相採用之下，特舉辦本短期研習課程，透過本短期課程可使參與者了解現今利用二維偵測器的X光繞射與散射等分析技術與技巧。
搭配二維偵測器的X光繞射儀器可提供二維繞射圖案數據，可及時獲知材料的原子排列結構和缺陷等豐富資訊，並可減少數據分析時間。本研習課程涵蓋了二維偵測器-X光繞射理論的基本概念和最新進展，繞射數據解釋及各種應用，如小角度X光散射，結晶相鑑定，織構，應力，顯微分析，結晶度，薄膜的分析等相關材料研究實驗之例子。
演講者: Dr. Kurt (Application Scientist, Bruker-AXS Inc.)
主題: Modern 2D Detector Application
時間: 2010/10/05 AM 10:00 ~ 12:00
地點: 中興大學化材館(工程三館)二樓(M206室)
主辦單位: 中興大學研發處貴儀中心、材料所
協辦單位: 台灣布魯克公司(Bruker-AXS Inc.)