跳到主要內容區塊
:::

國立中興大學校內貴儀 儀器說明會

更新時間:2011-09-14 15:03:39 / 張貼時間:2011-09-14 15:01:26
貴儀中心林玫姿
單位研發處貴儀中心
9,145

國立中興大學校內貴儀 儀器說明會

日期:100930

 

場發射掃描式電子顯微鏡

場發射掃描式電子顯微鏡(FESEM)儀器廠牌為蔡司ZEISS Ultra Plus熱場場發射掃描式電子顯微鏡,其解析度可達1.0 nm(15 kV)1.7 nm(1.0 kV)3.5 nm(0.2 kV)4.0 nm(0.1 kV)可對材料表面形之顯微組織貌進行精細觀察及亦加裝了X光能量散譜儀(EDS),可對材料做進一步微區之元素定性與定量分析。

 

 三次元奈米級拉曼磷光共軛雷射顯鏡

Nanofinder ® 30為一具高感光度與高解析度的三維拉曼顯微影像分析系統,具有可同時擷取三維影像與材料分析之功能。此光學系統建立於共軛焦顯微鏡的基礎上,因同時裝載有光譜分析儀與時間相干單光子偵測器,因此分別於光譜與時間參數上提供分析材料特性之能力。 Nanofinder具三維顯微拉曼散射或螢光影像偵測,拉曼光譜分析,螢光衰減週期(FLIM)分析等能力,可應用於如活體細胞偵測,半導體與半導體裝置材料與應力分析,磊晶薄膜結構與成分分析,以及石墨()/奈米碳管結構分析等多重領域之研究。

 

可變溫式超高真空掃描探針顯微鏡JSPM-4500VT

JSPM-4500VT 為日本JEOL公司所製造的超高真空可變溫式掃描探針顯微鏡,具有掃描穿隧顯微術與原子力顯微術、磁力顯微術的功能。其超高真空系統可提供 <1x10-8 Pa的超高真空環境,並具備樣品交換腔體、樣品準備腔體與樣品檢測腔體。此JSPM-4500VT可變溫式超高真空掃描探針顯微鏡,所具有的超高真空樣品製備與量測環境、方便更換樣品與探針的設計、以及大範圍溫度調控的能力,使其可以廣泛應用於奈米科學與半導體相關研究領域之中。

 

時間

課程內容

演講者

地點

9:30-10:00

報到

 

 

10:00-10:10

開場

奈米中心主任  楊吉斯 教授

理學大樓1A01

10:10-12:00

場發射掃描式電子顯微鏡開放使用說明會

Q &A

化學系 林寬鋸 教授

理學大樓1A01

12:00-13:30

              

13:30-15:00

三次元奈米級拉曼磷光共軛雷射顯鏡說明會

Q &A

物理系 施明智 副教授

理學大樓1A01

15:00-15:10

                 

15:10-16:40

可變溫式超高真空掃描探針顯微鏡JSPM-4500VT

Q &A

物理系 蘇志川 先生

理學大樓1A01

 

國立中興大學校內貴儀 儀器說明會報名

網路報名:http://nanocenter.nchu.edu.tw/insert.php?id=94

聯絡人:(04)2284-0502#17 鄧小姐

Back