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國立中興大學貴重儀器中心場發射掃描式電子顯微鏡(含EDS),為進一步服務使用者,特於12月2日舉辦使用者研討會。

更新時間:2005-11-03 10:12:53 / 張貼時間:2005-11-03 10:12:53
貴儀中心林玫姿
單位研發處貴儀中心
10,471

一、主旨:國立中興大學貴重儀器中心場發射掃描式電子顯微鏡(含EDS),為進一步服務使用者,特定期舉辦使用者研討會。

二、儀器簡要說明:本儀器廠牌為日本JEOL JSM-6700F冷陰極場發射掃描式電子顯微鏡
,其解析度可達
1.0 nm (15 kV)2.2 nm (1 kV),對材料之顯微組織可做精細之觀察。顯微鏡上亦加裝了X光能量散譜儀(EDS),可對材料做進一步微區之元素定性與定量分析。

三、議程日期:20051202(週五)

地點:中興大學工程三館(化工暨材料大樓)

※為了便於準備資料,請事先報名(免報名費)1128()傳真至04-22857017盧裕豐或E-mail: yflu@dragon.nchu.edu.tw,聯絡人:盧裕豐(電話:04-22840500111)

 

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