國立中興大學貴重儀器中心場發射掃描式電子顯微鏡(含EDS)，為進一步服務使用者，特於12月2日舉辦使用者研討會。

更新時間：2005-11-03 10:12:53 / 張貼時間：2005-11-03 10:12:53

貴儀中心林玫姿

單位研發處貴儀中心

11,883

一、主旨：國立中興大學貴重儀器中心場發射掃描式電子顯微鏡(含EDS)，為進一步服務使用者，特定期舉辦使用者研討會。

二、儀器簡要說明：本儀器廠牌為日本JEOL JSM-6700F冷陰極場發射掃描式電子顯微鏡
，其解析度可達1.0 nm (15 kV)，2.2 nm (1 kV)，對材料之顯微組織可做精細之觀察。顯微鏡上亦加裝了X光能量散譜儀(EDS)，可對材料做進一步微區之元素定性與定量分析。

三、議程：日期：2005年12月02日(週五)

地點：中興大學工程三館(化工暨材料大樓)

※為了便於準備資料，請事先報名(免報名費)，於11月28日(一)前傳真至04-22857017盧裕豐或E-mail: yflu@dragon.nchu.edu.tw，聯絡人：盧裕豐(電話：04-22840500轉111)

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