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貴重儀器中心穿透式電子顯微鏡暨場發射掃描式電子顯微鏡說明會

更新時間:2007-11-23 07:55:05 / 張貼時間:2007-12-12 18:37:18
植病系王家麗
單位植病系
10,007

穿透式電子顯微鏡暨場發射掃描式電子顯微鏡說明會

一、穿透式電子顯微鏡

1、主旨:國立中興大學貴重儀器中心為提昇服務品質,蒙國科會經費補助所購置之全新120 kV穿透式電子顯微鏡,已完成裝機及測試,為讓使用者對此設備有進一步了解,特舉辦本說明會。

2儀器簡要說明:本儀器JEOL JEM-1400穿透式電子顯微鏡,儀器最大放大倍率為80萬倍,其解析point-0.38 nm lattice-0.20 nm,除可提供生物試樣的觀察外,更提昇對奈米高分子的觀察服務,儀器週邊設備包括有數位影像系統(CCD)及三維重構(3D Tomography)影像處理系統等

二、場發射掃描式電子顯微鏡

1、主旨:國立中興大學貴重儀器中心場發射掃描式電子顯微鏡(FE-SEMEDS),目前已服務近一年,為讓使用者對本儀器有進一步的認識,特舉辦本儀器第二次的服務說明會。

2、儀器簡要說明:本儀器廠牌為日本JEOL JSM-7401F冷陰極場發射掃描式電子顯微鏡,其解析度可達1.0 nm(15 kV)1.5 nm(1 kV),對生物及非生物樣品之顯微組織可做精細之觀察,由於本機台於低電壓時仍可保有高度解析能力,因此適合生物性樣品的微細觀察。顯微鏡上亦加裝了X光能量散譜儀(EDS),可對樣品做元素定性及定量分析。

三、議程:日期:20071221(週五)

                       地點:國立中興大學植病系視聽教室(農環大樓十樓10B05室)

 

為了便於準備資料,請事先報名(免費報名),並於1214()前傳真至04-2287017304-22850474E-mail: fesem@dragon.nchu.edu.twaem@dragon.nchu.edu.tw,聯絡人:林婉玉(電話:04-22872361)趙佩琪(電話:04-22840780-302)。汽車通行者須繳交50元停車費。

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