貴重儀器中心穿透式電子顯微鏡暨場發射掃描式電子顯微鏡說明會

國 立 中 興 大 學 貴 重 儀 器 中 心

穿透式電子顯微鏡暨場發射掃描式電子顯微鏡說明會

一、穿透式電子顯微鏡

1、主旨：國立中興大學貴重儀器中心為提昇服務品質，蒙國科會經費補助所購置之全新120 kV穿透式電子顯微鏡，已完成裝機及測試，為讓使用者對此設備有進一步了解，特舉辦本說明會。

2、儀器簡要說明：本儀器JEOL JEM-1400穿透式電子顯微鏡，儀器最大放大倍率為80萬倍，其解析point-0.38 nm lattice-0.20 nm，除可提供生物試樣的觀察外，更提昇對奈米高分子的觀察服務，儀器週邊設備包括有數位影像系統(CCD)及三維重構(3D Tomography)影像處理系統等。

二、場發射掃描式電子顯微鏡

1、主旨：國立中興大學貴重儀器中心場發射掃描式電子顯微鏡(FE-SEM含EDS)，目前已服務近一年，為讓使用者對本儀器有進一步的認識，特舉辦本儀器第二次的服務說明會。

2、儀器簡要說明：本儀器廠牌為日本JEOL JSM-7401F冷陰極場發射掃描式電子顯微鏡，其解析度可達1.0 nm(15 kV)，1.5 nm(1 kV)，對生物及非生物樣品之顯微組織可做精細之觀察，由於本機台於低電壓時仍可保有高度解析能力，因此適合生物性樣品的微細觀察。顯微鏡上亦加裝了X光能量散譜儀(EDS)，可對樣品做元素定性及定量分析。

三、議程：日期：2007年12月21日(週五)

                       地點：國立中興大學植病系視聽教室(農環大樓十樓10B05室)

※為了便於準備資料，請事先報名(免費報名)，並於12月14日(五)前傳真至04-22870173、04-22850474或E-mail: fesem@dragon.nchu.edu.tw、aem@dragon.nchu.edu.tw，聯絡人：林婉玉(電話：04-22872361)及趙佩琪(電話:04-22840780-302)。汽車通行者須繳交50元停車費。