★98年4月10日(五)高解析X光繞射儀開放服務說明會

國立中興大學貴重儀器中心

高解析X光繞射儀開放服務說明會

各位學術先進以及產業界朋友大家好：

高解析x光繞射儀(High resolution X-ray diffractometer , HRXRD)及垂直面低掠角X光繞射儀(In-plane GID XRD)是研究各式材料晶體結構所不可或缺的利器。藉由高解析X光繞射儀可量測材料的晶體結構資訊加以探討材料性質的變化，為一即時且兼具非破壞性檢測之分析設備，可提供一般繞射分析 ( 晶相鑑定，結構解析) 、高解析薄膜繞射分析 ( 薄膜結構，組成及厚度)、全反射量測 ( 薄膜特性，粗糙度，密度 )、織構分析、殘餘應力測定、極圖繪製、垂直面低掠角繞射分析及小角度散射、變溫XRD量測等各式材料研究之全方位分析服務。

近年來奈米科技研究蓬勃發展，學術研究或產業研發常需探索各式材料的晶體結構資訊。有鑑於此，中興大學貴重儀器中心獲得國科會補助，於2008年底購置了德國BRUKER AXS公司的高解析X光繞射儀/垂直面低掠角X光繞射儀，提供各式材料的晶體結構及其相關延伸解析之服務。本儀器配備最新發展的2維偵測器VANTEC-2000，針對具有優選取向之結晶材料能提供比一般X-ray偵測器更精確的結果；另外加載變溫裝置及in-plane繞射系統，將提供使用者更多樣的服務。

中興大學貴儀中心高解析X光繞射儀目前已裝機完成測試。為鼓勵學術界及產業界多加利用本儀器進行研究，特舉辦研討會說明儀器性能及應用，邀請您蒞臨參加。

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