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【媒體報導】「幼兒遺傳智能障礙 」興大發現關鍵基因結構

更新時間:2014-11-14 09:21:35 / 張貼時間:2014-11-14 09:17:54
興新聞張貼者
單位秘書室
新聞來源自由時報
2,851
   

【媒體報導】


 

「幼兒遺傳智能障礙 」興大發現關鍵基因結構

張貼.2014/11/14 上午 09:09:41   祕書室媒體公關組  .

 
                                                                                                                                      

稿源:2014-11-13/自由時報/D12/蔡淑媛/台中

「X染色體易脆症」的致病關鍵是基因突變成四股螺旋結構。侯明宏教授(右3)帶領的研究團隊首次發現「X染色體易脆症」的關鍵基因結構,獲刊在《應用化學》期刊。

遺傳性智能障礙疾病「X染色體易脆症」常造成幼兒智能障礙,中興大學基因體研究團隊首度找到「基因變異成核酸四股螺旋結構」,使致病的三核苷酸會超過200次重複序列,造成發病,今年9月發表於國際頂尖專業期刊《應用化學》,有助於未來找出對應藥物治療或預防性投藥。

中興大學基因體暨生物資訊學研究所教授侯明宏指出,「X染色體易脆症」是常見的家族X染色體遺傳疾病,遺傳到下一代機率高,會造成智能障礙,成長過程可能產生自閉症、咬合不正、下顎向前突出、耳朵大、臉長等症狀,大約每1250名男性幼兒中,就有一人罹患此病,女性發生機率較低。目前為止,沒有任何藥物可以治療。

侯明宏說,正常X染色體上,「易碎智能遲緩基因」的三核苷酸重複排序約5至44次,一旦超過200次就會發病。這次研究團隊首次找出「核酸四股螺旋結構」,在DNA複製過程中,造成序列次數暴增的原因。

研究團隊是利用X光繞射技術首度揭開了「X染色體易脆症」在致病過程中機制的奧秘,獲得《應用化學(Angewandte Chemie- International Edition)》刊載。

侯明宏指出,目前「X染色體易脆症」可透過產前羊膜穿刺檢查發現,但如果未接受此項檢測或是未檢測出來,通常得要等到幼兒顯現出症狀才被發現。

 


 

 

 


  

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